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ベンチトップテスト向けRFソリューション

コネクターインターフェース、ケーブルアセンブリー、アダプタースタックがセットアップによって異なると、ベンチトップでの特性評価の信頼性が低下します。RFインターフェースを標準化し、不要な接続変換を減らすことで、異なる周波数帯域で検証を行う場合でも再現性を維持できます。RFベンチトップテスト向けのMolexソリューションは、迅速な切り替えと一貫性の高い測定を実現し、再テストサイクルを削減して開発プロジェクトの円滑な推進を支援します。

ベンチトップRFテストの再現性向上


セットアップごとに異なるコネクターやアダプタースタックを使用すると、実際の被試験デバイス(DUT)の挙動が見えにくくなり、67GHz、110GHz、145GHzで信号の不連続性が増大します。マルチポート検証では、ベンチ上のスペース不足やPCBフットプリントの大型化、レーン間のミスマッチにより、224Gおよび448Gのワークフローを効率的に拡張することが難しくなり、複雑さがさらに増します。

再現性の向上には、まず周波数帯域や測定要件に応じて精密同軸インターフェースを標準化し、そのうえでDUTと治具間の機械的に安定した接続を確立することが重要です。接続変換を適切に管理し、不要なアダプターを減らして測定チェーンを簡素化することも、信号特性の維持に役立ちます。

Cardinal Multi-Port高周波同軸アセンブリーを含むRFベンチトップテスト機器向けのスケーラブルなMolexソリューションは、はんだ不要の圧着式PCBインターフェースと、145GHzまで±1psの位相整合を実現したマルチポートテストを提供します。ベンチ標準化向けのMolexポートフォリオは、レーン間の相関性向上と迅速な切り替えに加え、スタックアップへの感度を低減し、500回を超える嵌合サイクルにわたって機器ポートを保護するとともに、開発の進展に応じて性能マージンを維持します。

ベンチトップRFテストの課題


ベンチトップテストにおけるセットアップ間の再現性向上

治具、ケーブル、追加アダプターを変更しながら日常的にベンチを組み直すと、セットアップ間のばらつきが生じ、アダプタースタックへの感度が高まり、レーン間の相関性が低下します。より再現性の高いベンチ構成は、接続変換を最小限に抑え、周波数帯域や測定要件に適合したインターフェースを採用し、基準パスの一貫性を維持する機械的に安定したDUTと治具間の接続を確保することから始まります。Molex Cardinal Multi-Port、Flex、TestおよびWaveアセンブリーは、高精度RFコネクター、制御された接続変換を実現するアダプター、コネクターセーバーと組み合わせることで、ベンチトップインターコネクトの標準化とベンチ間の一貫性向上に貢献します。

Specialty connectors used in high-frequency measurement instruments.

制御されていない接続変換に起因するmmWave測定の不確実性を低減

67GHz、110GHz、145GHzでは、摩耗した嵌合面や追加したアダプターによるわずかな不連続性であっても、エラーバジェットを消費する可能性があります。この不確実性は、DUTの挙動と見分けがつきにくい測定値のばらつきとして現れ、再テストや長時間に及ぶマルチポートVNA特性評価を余儀なくします。Molex Cardinal Multi-Port、Flex、TestおよびWaveアセンブリーは、高精度RFコネクターおよび接続変換を最適化するアクセサリーと組み合わせることで、インピーダンス/リターンロスと位相の安定化、レーン間の相関性向上、原因不明の性能劣化の低減に貢献します。

A scientist in a laboratory inspecting electronic circuitry on a precision workstation.

頻繁な嵌合・離脱に対応する高サイクルインターコネクトの信頼性

高頻度の嵌合、DUTの交換、および治具の交換により、ベンチトップテスト環境の接続部には大きな負荷がかかり、摩耗による性能変動や断続的な障害、さらには測定器ポートの損傷を引き起こす可能性があります。この摩耗は時間の経過とともに相関性を低下させ、ダウンタイムを発生させることで、安定した測定結果や迅速な切り替えを妨げます。Molex Cardinal高周波RFケーブルアセンブリーは、コネクターセーバーやアダプターと組み合わせることで、再現性の高い嵌合を実現し、使用頻度の高いポートを保護するとともに、長期間の使用においてもレーン間の一貫性を維持します。

Printed circuit board meters for RF benchtop test and measurement.